行       業(yè)：陣列微電級(jí)腐蝕監(jiān)測(cè)

設(shè)計(jì)內(nèi)容：硬件設(shè)計(jì)、ARM設(shè)計(jì)、電路設(shè)計(jì)

設(shè)計(jì)時(shí)間：2023

產(chǎn)品簡(jiǎn)述：陣列電極測(cè)量是指將相互絕緣的金屬絲陣列，有序緊密排列用于模擬整個(gè)金屬表面的多電極技術(shù)。通過(guò)循環(huán)掃描陣列電極表面的電位與電流分布，用于表征裸露或涂層下的金屬表面局部腐蝕分布特征和非均勻電化學(xué)溶解過(guò)程。陣列電極電化學(xué)掃描系統(tǒng)可以精確測(cè)量任一單電極的電極電位以及短路原電池電流，無(wú)需擔(dān)心外部極化可能會(huì)破壞微區(qū)腐蝕環(huán)境，因而特別適合于金屬在非擾動(dòng)狀態(tài)下自發(fā)腐蝕行為研究。

設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)：昱櫟技術(shù)